涂層厚度測量應(yīng)用案例分享

更新時間：2026-04-13

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助力電子制造品質(zhì)躍升PCB板涂層厚度測量案例

在半導(dǎo)體與電子制造行業(yè)，涂層厚度雖微，卻是決定產(chǎn)品性能與可靠性的關(guān)鍵變量。特別是在PCB（印刷電路板）領(lǐng)域，涂層不僅起到保護電路、耐高溫和防腐蝕的作用，也影響后續(xù)焊接質(zhì)量與使用壽命。

近日，工業(yè)物理中國收到某電子行業(yè)客戶委托，使用旗下SpecMetrix® ROI增強光學(xué)干涉膜厚分析系統(tǒng)，對其生產(chǎn)的多款PCB板樣品進行了精密涂層厚度測量。測試取得了高精度、強重復(fù)性且與傳統(tǒng)切片法一致的結(jié)果，進一步驗證了該系統(tǒng)在電子材料測厚領(lǐng)域的*實力。

測試目的

該客戶為國內(nèi)電子元件制造商，在高頻通信、電力系統(tǒng)及工業(yè)控制等場景中均有PCB產(chǎn)品應(yīng)用。客戶在日常質(zhì)量管控中，原采用切片顯微法進行膜厚分析，但存在制樣繁瑣、破壞性強、效率低等問題。

因此，此次他們正在尋找一種：

? 非接觸

? 非破壞

? 更高效率

? 精度可靠

的替代方案，對其PCB板表面功能性涂層進行膜厚測量，以支持工藝優(yōu)化和成品質(zhì)控。

測試方法與系統(tǒng)說明

本次測試采用工業(yè)物理上海實驗室的 SpecMetrix® Enhanced 實驗室版系統(tǒng)，其搭載的 ROI 增強光學(xué)干涉測量技術(shù)，已納入 ASTM D8331 國際標(biāo)準(zhǔn)，可對透明、有色或著色基材上的涂層進行亞微米級非接觸式測量。

測試參數(shù)：

• 涂層折射率：1.55（標(biāo)準(zhǔn)預(yù)設(shè)）

• 波長范圍：490–670 nm

• 測量方式：區(qū)域掃描，每塊區(qū)域 100+ 測點平均

• 測試樣品：客戶提供 2 塊 PCB 樣品，每塊選取上下兩區(qū)域分別測量

測量結(jié)果與分析亮點：

• 樣品一：上區(qū)域平均膜厚為 21.90μm，下區(qū)域為 21.09μm

• 樣品二：上區(qū)域為 24.58μm，下區(qū)域為 21.70μm

結(jié)果顯示：

數(shù)據(jù)與客戶切片法結(jié)果吻合度高，驗證系統(tǒng)準(zhǔn)確性
重復(fù)性良好，區(qū)域差異在可接受范圍內(nèi)
無破壞、快速出數(shù)、無需前處理，極大提升檢測效率
ROI干涉技術(shù)對PCB等多孔、微結(jié)構(gòu)材料表現(xiàn)出色

此外，SpecMetrix® 還可用于其他電子及半導(dǎo)體領(lǐng)域，例如：

• UV/PI 絕緣涂層

• 柔性電路板（FPC）表面處理

• 光學(xué)薄膜、導(dǎo)熱膜等新材料

• 電池隔膜、封裝膜及粘結(jié)層測厚

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